MEDICION DE TEMPERATURA Y CORRIENTE DE FUGAS EN UN CHIP

El invento consiste en un aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura.

Invento nuevo: Medidor de la corriente de fugas en un chip


Actualmente no se conocen inventos que resuelvan el siguiente problema:

En un circuito integrado cuando un transistor de tecnología de semiconductor de óxido metálico (MOS) polarizado se apaga, una pequeña corriente de fugas fluye desde su drenador hacia su fuente y su sustrato. Esto ocurre incluso cuando no hay diferencia de potencial entre la puerta y la fuente.

En los procesos tecnológicos actuales que emplean transistores con anchuras de puerta inferiores a una micra, las corrientes de fugas han dejado de tener un valor despreciable.

En el caso de los circuitos de muy alto nivel de integración (VLSI) que emplean lógica complementaria de semiconductor de óxido metálico (CMOS), estas corrientes de fugas son una fuente de corriente estática constante lo que supone un consumo de potencia estática permanente.

La Universidad Politécnica de Madrid, ha solicitado una patente PCT, en la que se describe un invento basado en un aparato integrado en un chip que mide variaciones en la temperatura o en las corrientes de fugas y que proporciona una señal cuya función de transferencia aproxima una tendencia lineal con las variaciones de temperatura.

Más información (más datos técnicos y análisis jurídico):

- Breve análisis técnico:

Tal y como se expresa en el documento:


El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita la representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro de un chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip.

Son varias las razones que justifican la búsqueda de una salida lineal en la función de transferencia de un sensor. En particular, la salida lineal permite un tratamiento homogéneo de los datos, facilitando su posterior procesado. Es decir, es suficiente un muestreo homogéneo de los valores de salida de la función, sin necesidad de recurrir a complejos sistemas adaptativos que incrementen la frecuencia de muestreo en aquellas zonas de la función donde se encuentra un mayor conjunto de valores representativos de salida. Esto facilita un alto grado de compatibilidad con los sistemas de control y acceso a los datos.

Para tener más detalles dirigirse al propio documento de la solicitud de patente.

- Breve análisis jurídico:

En el informe de búsqueda internacional que hace la oficina española de patentes y marcas, no aparece ningún documento que reste novedad o actividad inventiva a las reivindicaciones que describen este invento nuevo. Se trata, por tanto, de un invento NOVEDOSO A NIVEL MUNDIAL, y como tal, quedará archivado en la sección de los verdaderos nuevos inventos.

Para conocer los detalles de las reivindicaciones dirigirse al documento de la solicitud de patente.
Fecha de publicación de la PCT (OMPI): 19 / 02 / 2009

3 comentarios para “MEDICION DE TEMPERATURA Y CORRIENTE DE FUGAS EN UN CHIP”

  • Anonymous:

    sise se puede pongan la imajenes definidas

  • Anonymous:

    hacia ya falya un aparato que detectara las fu usuarios significagas una bentaja para los tecnicos y un abance para la ciencia en hora buena compañia saludos desde slp. mexico.

  • Anonymous:

    es mentira

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